| 产地 | Y18210516534 |
Vanta Element-SDD分析仪可以实惠的价格完成矿物成分以及合金辨别，土壤重金属筛查等行业，并探测到包含镁（Mg）、铝（Al）、硅（Si）、硫（S）和磷（P）在内的轻元素。。
可测元素：
OLYMPUS
VANTA
VE-SDD
GeoChem Mode（％）
S硫, Ca钙, Ti钛, V钒, Cr铬, Mn锰, Fe铁, Co钴, Ni镍, Cu铜, Zn锌, As砷, Se硒, Rb铷, Sr锶, Zr锆, Nb铌, Mo钼, Ag银, Cd镉, Sn锡, Sb锑, Ta钽, W钨, Au金, Pb铅, Bi铋, Th钍, Hg汞, U铀,Mg镁, Al铝 Si硅,P磷, 34种元素
Vanta Element-SDD分析仪可准确、快速的在野外现场进行实时监测与数据筛查对提高工作效率，及时帮助调查科研人员判断调查情况、可对调查方案的具有重要意义。类似于智能手机的用户界面，易于学习，使用方便，有助于简化用户的培训过程和分拣过程。
以经济的成本完成轻元素的探测，擅长快速基本的分析镁（Mg）、铝（Al）、硅（Si）、硫（S）和磷（P）
探测器 ：PIN硅漂移探测器（SDD）
窗口 ：聚丙烯纺织纤维（Prolene），带有聚酰亚胺网格背衬
外型尺寸（宽 × 高 × 厚）：8.3 × 28.9 × 24.2 cm
重量 带电池时1.54公斤；不带电池时1.32公斤。
激励源激励源：4瓦特X射线管，50 kV银（Ag）阳极靶材
4瓦特X射线管，50 kV银（Ag）阳极靶材
主光束滤波 ：固定的铝制滤波片
探测器 ；硅漂移探测器（SDD）
电源: 14.4 V可拆卸锂离子电池，或者18 V电源变压器，100 ～ 240 VAC，50 ～ 60 Hz，大70 W
显示 :800 × 480（WVGA）电容式液晶显示触摸屏，可使用手指进行控制
操作环境 ;温度：−10 °C ～ 45 °C，100%占空比
湿度：10 % ～ 90 %相对湿度，非冷凝
坠落测试 : 通过了美军标准810-G中的从4英尺（1.22米）高处坠落的测试
IP评级和探测器快门闸保护IP54：防尘，而且可经受来自各个方向的水溅。
操作系统 : Linux
数据存储 : microSD插槽，并提供1 GB工业用可插拔SD卡
USB 2个USB 2.0 A型主端口，用于诸如无线局域网、蓝牙和USB闪存驱动盘等配件。
一个USB 2.0袖珍B型端口，用于连接计算机。
无线局域网 : 通过可选配的USB适配器，支持802.11 b/g/n（2.4 GHz）无线局域网功能
蓝牙 : 通过可选配的USB适配器，支持蓝牙功能
Vanta分析仪是奥林巴斯的手持式X射线荧光（XRF）设备。这款坚固的Vanta XRF分析仪通过了IP认证和坠落测试，可以在检测现场进行快速、准确的元素分析，并提供具有实验室水平的检测结果。
奥林巴斯为用户提供一套与Vanta分析仪一起使用的可选购配件，有助于提高Vanta分析仪在很多应用中的效率