德国耶拿光学集团JENOPTIK T8000系列粗糙度仪，计算机集成化的的表面轮廓粗糙度和波纹度测量仪，参数共计90多种，粗糙度和宏观轮廓行程可达0-60mm或0-120mm，多种型号可选。

主要特点：
◆ 计算机集成化的的表面轮廓粗糙度和波纹度测量仪，参数共计90多种
◆ 粗糙度轮廓测量仪符合新GB中国标准 ISO国际标准/ DIN德国标准/ MOTIF法国标准/JIS日本标准
◆ 稳定和牢固的机动立柱保证了测头的自动定位
◆ 在整个进给长度内都可测量粗糙度
◆ 在一个测量报告内分析粗糙度和轮廓特征数据
◆ 粗糙度和宏观轮廓行程可达0-60mm或0-120mm
◆ 机动立柱稳定牢固，保证测头的自动定位
◆ 海量采样点多达1,200,000点(120mm) 或 600,000点(60mm)
◆ 软件结构清晰，界面图形化，操作简单