E124型厚度测量仪专门用来测量较薄材料的厚度，如薄膜等。轻压表盘顶部的压杆使下面的测量头两面打开，将被测样品插入两测量面之间，然后放开压杆。表盘上的长针指示出厚度的微小变化，短针则显示较大的数值。
调零时，首先检查压脚表面是否清洁。然后将顶部的螺丝拧松，转动表盘外圈，使长针指到零，此时短针也应指到零。拧紧螺丝。
测量厚度时，先看短针在小表盘上所转过的圈数，该值乘以大表盘上的值，再加上长针读数即可得到总的厚度值。
表盘外沿两个黑色标记可以转动，定位于上限下限的地方。
范围 公制 英制
总范围 5毫米 (5000微米) 0.25’’(250密耳)
每个刻度 0.002毫米（2微米） 0.0001’’ (0.1密耳)
大表盘 0.2毫米（200微米） -0.010’’(10密耳)
圈 25 25
与测量带一起使用E124：
TESTEX测量带由两层塑料薄膜组成：较软的薄膜层上可记录粗糙表面的压痕；较硬薄膜层50微米厚（2密耳），与软层紧贴一起。
124厚度仪自动减除测量带薄膜厚度的测量方法：
1）确保124的测头表面清洁。将顶部的螺丝拧松，顺时针转动表盘外圈直到长针指向150微米（15标记）处，拧紧螺丝；
2）取1片TESTEX测量带贴在被测粗糙度表面，用带圆头的小棒在测量带的圆型区域反复摩擦，留下拓痕；
3）将留下拓痕的测量带放在124的两个测头之间，然后读表盘的读数，读数是长针直接显示的，这个读数就是所测表面的粗糙度值。