光学测量仪器和光学设备测试系统
可进行相干测量的光频谱分析仪
■相干测量
■1.5 秒/扫描的高速测量
■波长范围宽，从 0.35 微米到 1.75 微米
■波长测量精度为 0.1 纳米
Q8344A 是一款光学光谱分析仪，波长范围宽达 0.35 至 1.75 µm。
通过使用迈克尔逊干涉仪的傅立叶光谱系统，可以分析使用单色器的分散光谱系统无法获得的相干性。
它展示了评估光盘和视频磁盘激光二极管的能力。
光学测量仪器和光学设备测试系统内置 He-Ne 激光器用作参考波长，波长精度为 ± 0.1 nm (1.3 µm)，即使不进行波长校准，也能确保长期测量的稳定性。
Q8344A 的大波长分辨率为 0.05 nm（0.85 µm），适合测量模式间隔较窄的激光二极管。
测量速度约为 1.5 秒（0.4 至 1.05 µm 和 0.8 至 1.75 µm），与分析跨度无关，因此可作为系统组件使用。
Q8344A 具有多功能显示、分析和处理功能，可用于各种元件的特性测量应用，从激光二极管和 LED 等发光元件到光纤和滤波器等光学元件。
相干测量
由于 Q8344A 使用迈克尔逊干涉仪，因此可用于相干性测量。通过这一功能，可以轻松评估视频磁盘激光二极管回光引起的噪声抑制性能。
分析范围约为±10 毫米，可以测量光纤陀螺使用的 SLD（超级发光二极管）的相干长度。
1.5 秒/扫描的高速测量
非常适合生产应用
Q8344A 采用傅立叶光谱系统，因此无论测量跨度和灵敏度如何，都能在 1.5 秒内完成测量（前提是起始波长为 0.4 µm 或更长，且测量不同时覆盖短波长和长波长）。
因此，该分析仪适用于在生产线上测量激光二极管和发光二极管。此外，还可用于评估光纤和滤波器的传输和损耗特性。
作为系统组件使用时，分析仪只需 1.5 秒即可完成触发、测量和数据输出，地提高了系统吞吐量。
波长测量精度为 ± 0.1 nm
使用内置 He-Ne 激光器作为参考光源，测量波长精度高达 ± 0.1 nm（波长为 1.3 µm）。
因此，无需波长校准即可进行的波长测量。
大波长范围为 0.05 nm
Q8344A 在短波长（0.85 µm）时的大分辨率为 0.05 nm，因此可以通过逐个完全解析振荡模式来测量 CD 和可见光激光二极管。
大口径光纤输入（选件）
可选配 200 µm 大口径输入。在分析波长大于标准光纤口径（GI 50 µm）的设备时，需要使用该选件。
对于激光二极管分析，建议使用标准 50 µm 规格，而对于 LED 分析，建议使用此选配规格。