该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

主要性能指标： * 波长范围及峰值波长 (二者择其一)   （1）365探头（光谱响应曲线见图）           λ：(320～400)nm； λP＝365nm   （2）420探头（光谱响应曲线见图）           λ：(375～475)nm； λP＝420nm* 辐照度测量范围    (0.1～199.9×103)μW/cm2* 紫外带外区杂光     365    小于0.02％     420    小于0.02％* 准确度   ±10％* 响应时间   1秒* 使用环境   温度(0～40)℃；湿度＜85％RH                * 尺寸和重量   180mm×80mm×36mm；0.2kg* 电源   6F22型9V积层电池一只