Avio™ 200 系统能处理难度高的、未经稀释的高基体样品，为ICP 带来全新的性能及灵活性。
而且，出色的性能兼具简便易用性。硬件特性与直观易用的软件相结合，使多元素测量变得与单元素分析一样简单。
作为市场上一款小巧的 ICP，Avio 200 可通过以下性能，提供操作、可靠的数据和低的拥有成本：
低氩气消耗
快速的 ICP 启动（从关机状态启动，光谱仪在短短几分钟内即可准备就绪）
对所有适用的元素都具有出色的灵敏度与分辨率
具有双向观测技术的宽线性范围
性能可靠、功能强大、经济实惠、Avio 200 是您理想的选择。
既然可以成为开拓者，谁还愿意当操作者？
Avio 200 ICP 专为满足具挑战性的客户需求而设计，凭借一系列专有功能，可帮助您运行多个样品，所取得的成本效益远超以往任何时候。
低运行成本
借助 Flat Plate™ (平板) 等离子体技术，Avio 仅需消耗其他系统一半的氩气量，即可生成强健、耐基体的等离子体，同时赋予您：
低操作成本
无需再进行与传统螺旋负载线圈有关的冷却和维护，提供出色的运行时间和生产力
另外，为了提升效率，珀金埃尔默仪器具有动态波长，稳定功能。可令您从关机状态启动，在短短几分钟内即可进行分析，因而您大可在仪器不使用时随意关掉。
强大的双向观测功能
与提供轴向和径向观测而牺牲性能的同步垂直双向观测 ICP 系统不同，Avio 200 系统的双向观测功能，可测量所有波长，不会造成光或灵敏度的损失。即使是波长大于 500 纳米或低
于 200 纳米的元素也可以测量，即便是在 ppb 的含量水平。该 Avio 系统的双向观测设计也提供了可扩展的线性动态范围，确保实现：
样品制备和稀释工作量小
高、低浓度可以在同一运行中进行测量
质量控制和更准确的结果
减少重复运行
集成等离子体观测相机
可简化您的开发方法，同时借助 Avio 200 系统的 PlasmaCam™技术，尽享远程监控等离子体的便利。彩色相机
可帮助您：
实时观测等离子体
执行远程诊断
查看进样部件
革新性 PlasmaShear 系统，可实现无氩干扰去除
为了去除轴向观测的干扰，需要去除等离子体的冷尾焰。没有其他同类仪器能比 Avio 200 更有效、更可靠或更经济。
其他 ICP 去除尾焰需要消耗高达 4 升/分钟的氩气流量，Avio系统 PlasmaShear™ 技术只需空气即可。无需高维护、高提取系统或锥体。就是一个集成的、自动化的、能提供无故障轴向分析的干扰去除系统。
CCD 检测器，可实现出色的准确度和精密度
借助全波长功能，Avio 200 系统的强大电荷耦合器件（CCD）检测器能不断提供正确的答案。
Avio 系统的 CCD 检测器可同时测量所选谱线及其谱线附近波长范围，实时扣背景，实现出色的检测精密度。在分析过程中，它还可以同时执行背景校正测量，进一步提高准确度和灵敏度。
带有快速转换炬管底座的垂直等离子体，可实现出色的基体灵活性
即使 ICP 正在运行，Avio 200 系统的垂直炬管无需工具也能进行简便快捷的调节，可提供更大的样品灵活性并简化维护。炬管底座的设计与众不同，具有以下特点：
一个可拆卸的、独立于炬管的中心管，旨在减少维护和破损的可能性
自动自对准，即使在拆卸后也能提供一致的深度设置
兼容雾化器和雾室，可提高灵活性