M1 MISTRAL的应用领域很广，我们选择常见的例子进行介绍
测量镀层样品：
采用X射线荧光技术的M1MISTRAL可以分析薄镀层样品，如印刷电路板、金属或塑料件，包括单层镀层和多层镀层。XSpect软件采用无标样基本参数法，可以同时基数按镀层厚度和镀层组成。使用标准样品可以进一步提高定量分析的准确性
测定镀层样品厚度及成分例如
Zn-Fe、Ag-Cu、Au-Ni-Cu、Cr-Ni-Cu、Au-Pb-Ni-Cu
珠宝及合金分析：
M1 MISTRAL是珠宝、硬币及贵金属的理想分析工具。所有珠宝合金、铂族金属及银制品、不到1分钟就可以确定其准确成分。分析结果可以用百分含量或K（开）表示
M1 MISTRAL是采用X射线荧光技术的光谱仪，可对大件样品和镀层样品进行准确的分析。分析的元素范围：原子序数22号（钛）以上的所有元素。分析的样品类型：各类不同的材料，如金属、合金、金属镀层包括多层镀层样品
样品尺寸大可达100×100×100mm，无需任何处理，直接放在样品台上检测。
光管位于样品上方，测量过程中部接触样品，因此可以很容易地分析复杂式样的样品，如细作的珠宝和不容厚度的样品。
M1MISTRAL 是一款紧凑型的台式 µ-XRF 光谱仪，用于分析块状材料和涂层。它的操作速度快、成本效益， 可以提供与材料元素成分有关的准确信息。
该仪器具备高空间分辨率，光斑大小低至 100 微米。它可以分析任意形状的样品，例如复杂的珠宝，而无需进一步的制备，更重要的是，它的分析是无损的。支持的样品尺寸大可达 100x100x100 立方毫米。带有交叉十字线的视频显微镜，可以定位到您要测量的位置。电动 Z 型取样台允许快速聚焦。可选的 X-Y-Z 取样台甚至可以提供更大的舒适性。
M1MISTRAL 配备了高亮度微焦点 X 射线管，确保出色的激发测量光斑，产生高荧光效应。凭借功能强大、易于使用的 XSpect 软件套件，该仪器可交付准确的量化结果，而不论是分析块状材料还是复杂的多层结构。
适用于各种样品类型和应用领域
用于快速现场分析的便捷式系统
没有基体或记忆效应
运行费用低，无需任何介质、处理或定期维护