微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析的方法。
M4 TORNADO采用了全新的技术，为各种用户提供了佳的分析性能和非常方便的操控性。
采用多导毛细管聚焦镜，照射光斑小，空间分辨率高。
涡轮增速X-Y-Z样品台，借助放大倍数可变的摄像系统获得的样品影像，可在“飞行中”进行元素分布分析。
高强度的X射线光管与多导毛细管聚焦镜相结合，确保在非常小的照射区域内获得非常高的激发强度。采用滤光片和可以同时使用的配有不同靶材的双光管，可以根据不同的分析要求，优化激发光谱。
使用XFlash®探测器速地获取样品图谱，另外，使用多个探测器可以进一步提高测量速度。
采用无标样分析法定量分析块状样品，分析多层膜样品。
可抽真空的样品室配有自动门，大尺寸的样品室可以放置各种尺寸的样品。通过两个放大倍数可变的摄像系统观察样品（整体观察和分析区域的细致观察），便捷进样功能和自动对焦功能可以进行快速而的定位。通过用户编辑的X-Y-Z样品台运行程序可实现重复测量。