品牌	OLYMPUS/奥林巴斯（原美国泛美panametrics)
规格	45MG
材质	不锈钢
产地	美国

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成贯仪器——光学仪器、无损检测、色谱与光谱耗材等供应商【（廖泽阳）15026562346】

成贯仪器（上海）有限公司是奥林巴斯超声波测厚仪、光学仪器、无损检测、色谱与光谱耗材供应商，常年提供原装进口的olympus奥林巴斯超声测厚仪（原美国泛美panametrics），客户遍及上海，江苏（苏州、昆山、无锡、常州、南通、泰州、扬州、南京、淮安、徐州），浙江（嘉兴、湖州、杭州、绍兴、宁波、台州、温州、义乌、金华、衢州），安徽(黄山、宣城、芜湖、合肥、蚌埠、阜阳)，湖北（武汉、荆州、宜昌），湖南（长沙、株洲、湘潭），江西（九江、南昌、樟树、赣州），福建（宁德、三明、龙岩、福州、厦门、泉州），广东（汕头、惠州、深圳、东莞、广州、佛山、中山、珠海），广西（南宁、桂林），海南（海口、三亚），贵州（贵阳、遵义），云南（昆明、大理、丽江），西藏（拉萨）、新疆（乌鲁木齐）、青海（西宁）、甘肃（兰州、酒泉）、宁夏（银川）、青海（西宁）、陕西（西安）、重庆、四川（成都、绵阳）、河南（焦作、郑州、许昌、商丘、洛阳），山西（太原、临汾）、山东（威海、烟台、青岛、潍坊、淄博、济南、泰安、临沂），天津、河北（石家庄、邯郸、秦皇岛、唐山），北京、内蒙古（呼和浩特、包头、鄂尔多斯）、辽宁（大连、丹东、营口、沈阳、葫芦岛），吉林（吉林、长春）、黑龙江(哈尔滨、大庆、牡丹江、鸡西)等国内大中城市。

45MG超声测厚仪:

操作简便、坚固、性能可靠

45MG测厚仪是一款带有各种标准测量功能和软件选项的超声测厚仪。这款特色的仪器与所有Olympus双晶和单晶测厚探头兼容，是一款集所有解决方案于一机的创新型仪器，可用于几乎所有测厚应用。        

使用双晶探头对腐蚀工件进行测量使用单晶探头对工件进行测量

标准功能

45MG测厚仪在使用基本配置时，是一款易懂易学、操作简便的测厚仪，操作人员经过基本的培训，就可完成常用的测厚应用。不过，45MG仪器添加了可选软件选项和探头后，就会变成一款极为的测厚仪，可以进行典型的初级仪器不能完成的应用。此外，大多数选项可以在购买仪器时分别购买，或在日后需要时购买。                        

与所有Olympus双晶探头兼容，可对内部腐蚀的金属的厚度进行测量

小值/大值模式

两个报警模式

差值模式

时基B扫描

缩减率

增益调整（标准、高、低）  

密码式仪器锁定

带有可选橡胶保护套和支架的45MG测厚仪

可选功能

只需几次按键，即可完成从简单腐蚀测厚仪到多功能测厚仪的华丽变身。45MG测厚仪提供需密码激活的5个软件选项，从而跻身于工业领域中用途广泛的测厚仪行列。

回波到回波/穿透涂层：使用回波到回波选项，仪器屏幕上会显示金属的实际厚度，而涂层的厚度会被忽略。穿透涂层选项测量金属厚度与非金属涂层的厚度，这两个厚度都根据它们各自正确的材料声速值得到了调整。因此，在进行厚度测量时，无需去掉材料表面的漆层或涂层。

单晶：这个选项可对很多材料，如：金属、塑料、复合材料、玻璃及陶瓷，进行非常的厚度测量。这个选项可与范围在2.25 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。

单晶高穿透：这个选项可对较厚或衰减性较高的材料，如：玻璃纤维或铸造金属，进行厚度测量。可与范围在0.5 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。这个选项包含单晶选项。

数据记录器：45MG测厚仪带有一个功能的内置双向字母数字式数据记录器，可方便地存储和传输厚度读数和波形数据。这个选项包含基于Windows的GageView接口程序。

带有波形调整功能的实时A扫描：用户使用这个可选实时A扫描模式，可以在测厚仪的显示屏上直接查看超声波形（或称A扫描），核查厚度测量读数，对增益和设置进行手动调整，以在具有挑战性的应用中大限度地增强测量性能。这个极为有益的选项包含手动增益调整、扩展、回波、范围及延迟参数。

抵御恶劣环境的能力

坚固，设计符合IP67标准。                            

爆炸性气氛：可在国家防火协会规范（NFPA70）500节I级2分段D组规定的爆炸性气氛环境中操作，并且通过了美军标准MIL-STD-810G方法511.4程序I中规定的测试。

防撞击测试：通过了美军标准MIL-STD-810G方法516.5程序I中规定的测试，每轴6个循环，15 g，11 msec半弦波。

防振动测试：通过了美军标准MIL-STD-810G方法514.5程序I附录C图6中的测试，一般暴露：每轴1小时。

宽泛的操作温度范围

可选的带有支架的橡胶保护套

室内显示设置，可选A扫描模式

简便操作的设计理念

可只用右手或左手操作的简洁的键区

可直接访问大多数功能的简便易行的操作界面

使用内置MicroSD存储卡和可插拔MicroSD存储卡的存储方式

USB通讯端口

可存储475000个厚度读数或20000个波形的可选字母数字式数据记录器

默认或自定义单晶探头设置（可选）

密码保护方式的仪器锁定

彩色透反QVGA显示，带有室内和室外颜色设置，具有的清晰度

室外显示设置，可选A扫描模式

45MG的技术规格测量双晶探头测量模式从激励脉冲后的延迟到第一个回波之间的时间间隔。自动回波到回波（可选）在两个连续底面回波之间的时间间隔，不计漆层或涂层的厚度。穿透涂层测量 （可选）利用单个底面回波，测量金属的实际厚度和涂层厚度（使用D7906-SM和D7906探头）单晶探头测量模式（可选）模式1：激励脉冲与第一个底面回波之间的时间间隔。
模式2：延迟块回波与第一个底面回波之间的时间间隔（使用延迟块或水浸式探头）
模式3：在激励脉冲之后，位于第一个表面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔（使用延迟块探头或水浸式探头）。厚度范围0.080 mm～635 mm（0.003 in.～25.0 in.）视材料、探头、表面条件、温度和所选配置而定（要测量全的范围需要使用单晶选项）材料声速范围0.508 mm/μs～18.699 mm/μs（0.020 in./μs～0.7362 in./μs）分辨率（可选择）低分辨率：0.1毫米（0.01英寸）
标准分辨率：0.01毫米（0.001英寸）
单晶选项：0.001毫米（0.0001英寸）探头频率范围标准：2.25 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（单晶选项）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB）一般规格操作温度范围-10 °C～50 °C（14 °F～122 °F）键盘密封、以色彩区分功能的键盘，带有触感及声音反馈机壳防撞击、防水、装有密封垫的机壳，机壳上的接口密封。设计符合IP67标准。外型尺寸（宽 x 高 x 厚）总体尺寸：91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm重量430.9克电源3节AA电池/USB电源供应电池工作时间3节AA碱性电池：20到21小时
3节AA镍氢电池：22到23小时
3节AA锂离子电池：35到36小时标准设计符合EN15317标准

显示彩色透反QVGA显示液晶显示，显示屏尺寸：54.61毫米 x 41.15毫米检波全波、RF波、正半波、负半波（波形选项）

输入/输出USB2.0从接口存储卡大容量：2 GB可插拔MicroSD存储卡

内置数据记录器（可选）数据记录器45MG通过USB或MicroSD卡识别、存储、调用、清除及传输厚度读数、波形图像和仪器配置信息。容量475000个厚度测量读数，或20000个带厚度值的波形文件名称和ID编码32位字符的文件名，20位字符的字母数字位码文件结构6个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构报告机载报告总结了数据统计和小值/大值标准配置

45MG数字式超声测厚仪

AA碱性电池

2阶试块和耦合剂

USB线缆

用户手册，存于CD盘上

测量功能：小值/大值模式、两个报警模式、差值模式、B扫描、缩减率、可编程的锁定功能

软件选项

45MG-SE (U8147022)：单晶选项，使用频率范围为2.25 MHz～30 MHz的单晶探头

45MG-HP (U8147023)：单晶高穿透选项，使用频率范围为0.5 MHz～30 MHz的单晶探头

45MG-EETC (U8147021)：回波到回波和穿透涂层

45MG-WF (U8147019)：波形选项

45MG-DL (U8147020)：内置数据记录器，包含GageView接口程序

选购附件

MICROSSD-ADP-2GB (U8779307)： 2 GB外置MicroSD存储卡

45MG-RPC (U8779676)： 带支架的橡胶保护套

双晶探头，用于腐蚀测厚操作

所有标准双晶探头都具有自动探头识别功能。这个功能可以为每个特定探头自动调用默认V声程校正。

探头工件编号
频率（MHz）连接器端部直径mm(in.）范围（钢）*mm（in.）温度范围** °C (°F)线缆工件编号D790U8450002

5.0

平直

11.00
(0.434)

1.00 to 500.00
(0.040 to 20.000)

-20 to 500
(-5 to 932)

密封ˉD790-SMU8450009平直LCMD-316-5B†U8800353D790-RLU845000790°LCLD-316-5G†U8800330D790-SLU8450008平直LCLD-316-5HU8800331D791U8450010

5.0

90°11.00
(0.434)1.00～500.00
(0.040～20.000)-20～500
(-5～932)密封ˉD791-RMU84500115.090°11.00
(0.434)1.00～500.00
(0.040～20.000)-20～400
(-5～752)LCMD-316-5CU8800345D792U845001210平直7.20
(0.283)0.50～25.00
(0.020 to 1.000)0～50
(32～122)密封ˉD793U845001390°密封ˉD794U84500145.0平直7.20
(0.283)0.75～50.00
(0.030～2.000)0～50
(32～122)密封ˉD797U84500162.090°22.90
(0.900)3.80～635.00
(0.150～25.000)-20～400
(-5～752)密封ˉD797-SMU8450017平直LCMD-316-5DU8800355D7226U84540137.590°8.90
(0.350)0.71～100.00
(0.028～4.000)-20～150
(-5～300)密封ˉD798-LFU8450019D798U84500187.590°7.20
(0.283)0.71～100.00
(0.028～4.000)-20～150
(-5～300)密封ˉD798-SMU8450020平直LCMD-316-5JU8800357D799U84500215.090°11.00
(0.434)1.00～500.00
(0.040～20.000)-20～150
(-5～300)密封ˉMTD705U86202255.090°5.10
(0.200)1.00～19.00
(0.040～0.750)0～50
(32～122)LCPD-78-5U8800332D7906-SM††U84500055.0平直11.00
(0.434)1.00～50.00
(0.040～2.000)0～50
(32～122)LCMD-316-5LU8800358D7906-RM††U845002590°LCMD-316-5NU8800647D7908U84500067.590°7.20
(0.283)1.00～37.00
(0.040～1.500)0～50
(32～122)密封ˉ

*厚度范围取决于材料、探头类型、表面条件和温度。

†可提供不锈钢线缆；欲查询详情，请与Olympus NDT联系。

**高温度下，仅使用间歇接触。

††使用穿透涂层技术的探头。

单晶探头，用于厚度测量

接触式探头

频率晶片直径
探头
工件编号mmin.0.5251.00M101-SB*U84000171.0251.00M102-SB*U84000181.0130.5M103-SB*U84000202.25130.5M106-RMU8400023M106-SMU84000252.25130.5M1036U8400020

5.0

130.5M109-RMU8400027M109-SMU84000285.060.25M110-RMU8400030M110-SM
M110H-RM**U8400031
U84000291060.25M112-RM
M112-SMU8400034
U8400035
U8400033M112H-RM**U84000331030.125M1016U84000152030.125M116-RMU8400038M116-SMU84000392030.125M116H-RM**U8400037

*这些探头只能与高穿透软件选项一起使用。
**需使用弹簧加载支架。

Sonopen 探头

Sonopen探头的延迟块可以更换，其端部为锥形，可接触到极其狭窄的区域。这种探头可以在测量涡轮叶片厚度及塑料容器的内圆角的厚度等应用中提供可靠的厚度读数。

Sonopen - 15 MHz，3 mm（0.125 in.）探头

平直手柄直角手柄45°手柄工件工件
编号工件工件
编号工件工件
编号V260-SMU8411019V260-RMU8411018V260-45U8411017

Sonopen - 可替换的延迟块

直径工件工件
编号mmin.2.00.080DLP-3U87700861.50.060DLP-302U87700882.00.080DLP-301†U8770087

†高温延迟，可用于高达175°C的温度。

水浸探头

Panametrics Microscan水浸探头的设计目的是在水中传播并接收超声波。当被测样件的几何形状较为复杂或进行在线检测时，通过水浸技术获得的厚度读数通常更为可靠。典型的离线应用包含对小直径塑料或金属管件的壁厚测量，扫查或旋转测量，以及对大幅弯曲的样件进行的厚度测量。在某些应用中可能需要探头触及到极其狭小的区域。

频率
（MHz）晶片直径
探头

工件编号

mmin.2.25130.50M306-SUU84100275.0130.50M309-SUU84200015.060.25M310-SUU84200041060.25M312-SUU84200081560.25M313-SUU84200092030.125M316-SUU8420011

RBS-1水浸箱

RBS-1水浸箱的设计目的是简化利用水浸技术的超声测厚操作。

延迟块探头

Microscan延迟块探头可在测量极薄材料，温度，或要求厚度分辨率的应用中，发挥的测量性能。

频率
（MHz）晶片
直径
探头

工件
编号

支架
工件
编号mmin.0.5251.00M2008*U8415001--2.25130.50M207-RBU8410017--5.0130.50M206-RBU8410016--5.060.25M201-RMU8410001--5.060.25M201H-RMU84110302127U8770408
10
6
0.25M202-RMU8410003
-
-M202-SMU84100041060.25M202H-RMU85070232127U8770408
10

3

0.125M203-RMU8410006
-
-M203-SMU8410007
20
3
0.125M208-RMU8410019
-
-M208-SMU84100202030.125M208H-RMU84100182133U87704122030.125M2055**U8415013--3060.25V213-BC-RM**U8411022--

*这些探头只能与高穿透软件选项一起使用。
**这些探头中的延迟块不能替换。

可替换的延迟块

延迟块的作用是在被测样件表面与探头晶片之间充当保护性缓冲器。

晶片
直径

延迟块大厚度
测量极限*mmin.工件工件
编号钢- 模式2钢- 模式3塑料- 模式2mmin.mmin.mmin.130.50DLH-2U8770062251.0130.5130.560.25DLH-1U8770054251.0130.5130.5030.125DLH-3U8770069130.550.250.2

附加产品

耦合剂

为得到探头与被测样件之间的声学耦合，几乎总会需要液体耦合剂。我们所提供的各种耦合剂几乎可以适用于所有应用。

校准试块

试块是校准超声测厚仪的必要工具，为保持、核查超声测量的性、独立性及可靠性，要使用校准试块。试块所使用的公差标准较ASTM E797规范中表述的公差更为严格。我们备有公制单位的试块。

探头线缆

我们提供适用于所有超声测厚仪器的各种探头线缆。

标准型

防水型

型

特氟纶（Teflon）

带PVC外壳

带硅树脂外壳

不锈钢